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JASRI 理研　X線CMOS検出器を用いてタンパク質構造解析の為の新たな回折データ測定法を開発 (2009/12/01)

高輝度光科学研究センター（JASRI）は理研と共同で、X線CMOS検出器を使用して、タンパク質構造解析の為の新たな回折データ測定法を開発したと発表しました。

現在、タンパク質の結晶解析はCCDセンサーを搭載したX線検出器を用いて行われますが、精度や効率の面で課題があったようです。
この度の研究ではCMOS型の検出器を搭載し「連続回転法」という新たな方法で測定法の開発を行い、効率や精度を向上させました。

またCMOS型検出器は、読み取りノイズが大きく、タンパク質結晶の回折データ測定には不向きであると考えられていましたが、浜松ホトニクス社と共同開発したノイズの小さいCMOS型検出機を使用することで、課題を解決しています。

この度発表されたCMOS型検出記を用いた方法は、回折データ測定データの効率や精度の向上ばかりではなく、
CMOSセンサーはCCDセンサーに比べ一般に安価であるため、コスト軽減の役割も担っています。

プレスリリース